Schlagwort: Wafer-Inspektion

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Inspektionsmaschine für Keramikwafer 29. Juli

Inspektionsmaschine für Keramikwafer

Die Keramikwafer-Inspektionsmaschine von Openex bietet eine ultraschnelle, KI-gestützte visuelle Inspektion für Keramikchips. Erkennt Fehler wie Elektrodenunebenheiten, Kantenbeschädigungen, Risse, Verunreinigungen und Verformungen mit einer Geschwindigkeit von bis zu 800 Stück/min.

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Präzision neu definiert - Das autonome Phosphor-Sheet-Wafer-AOI-System von Openex 31. Dez.

Präzision neu definiert - Das autonome Phosphor-Sheet-Wafer-AOI-System von Openex

Entdecken Sie das vollautonome Phosphor-Sheet-Wafer-AOI-System von Openex. Diese Fallstudie beschreibt, wie unsere hybride KI-Vision, das Hochgeschwindigkeits-Markieren mit 10K/UPH und tiefgreifende Prozessinnovationen die Herausforderungen bei der Erkennung von Mikrodefekten lösen und eine überlegene Alternative zu importierten Geräten bieten.

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