1,400 PPMでゼロ欠陥のSMAダイオード

概要

大量の電子機器製造において、個々のSMAダイオードの信頼性は最重要です。ピンホール、露出した銅の痕跡、またはピンのわずかな曲がりなどの微細な欠陥は、コンポーネントの故障、現場での故障、費用のかかる製品リコール、およびブランドへの回復不可能な損害につながる可能性があります。

当社のSMAダイオード検査システムは、安定した、正確で、再現性のある品質管理を必要とする半導体メーカー向けに設計された、完全に自動化された高速光学検査ソリューションです。高度なAIビジョン、精密供給メカニズム、およびリアルタイムの欠陥分類を搭載しており、手動検査を効果的に置き換え、完全なトレーサビリティ生産管理を保証します。

ダイオード本体の寸法、表面品質、めっきの一貫性、ピンの品質、混合材料の検出などの検査要件に応じてカスタマイズ可能な4面、6面、または8面の高速検査をサポートします。

高度な装置の機能

当社のシステムは、最高の速度、安定性、およびインテリジェンスを実現するように設計されています。

1. 驚異的な検査速度

当社のシステムの最適化されたハードウェアとソフトウェアは、毎分最大1,400個を検査でき、スループットを犠牲にすることなく完全な品質管理を保証します。

2. 安定した、詰まりのない供給

精密機械加工されたアルミニウム合金製振動ボウルを特徴としています。このカスタムフィーダーは、安定した、低騒音で、一貫した部品供給を提供し、詰まり、詰まり、または向きの誤った部品を完全に排除します。

3. 使いやすく、MES対応

システムは、直感的で使いやすいUIを介して制御されます。また、完全にMES対応であり、リアルタイムのデータ追跡とトレーサビリティのために工場管理システムにシームレスに接続できます。

4. インテリジェントな欠陥分類

これは単なるリジェクタではありません。当社のシステムは、欠陥カテゴリ別に欠陥製品を自動的に選別します。これにより、故障分析に非常に貴重で実用的なデータが提供され、エンジニアリングチームが上流のプロセス問題を特定して修正し、全体的な歩留まりを向上させるのに役立ちます。

5. 非常に柔軟でスケーラブルなアーキテクチャ

お客様の検査ニーズはユニークです。当社のプラットフォームは、カスタマイズ用に構築されています。

• 多面検査: 100%のカバレッジを実現するために、4面、6面、または8面検査用に構成できます。
• 超高速: 当社独自の社内開発システムは、毎分最大10,000個の速度に合わせて精密にカスタマイズできます。