概要

大量生産のエレクトロニクス製造において、個々のSMAダイオードの信頼性は最も重要です。ピンホール、露出した銅の痕跡、またはピンのわずかな曲がりといった微細な欠陥は、コンポーネントの故障、現場での故障、高額な製品リコール、そしてブランドへの回復不可能な損害につながる可能性があります。

当社のSMAダイオード検査システムは、安定した、正確で、再現性のある品質管理を必要とする半導体メーカー向けに設計された、全自動の高速光学検査ソリューションです。高度なAIビジョン、精密な供給機構、およびリアルタイムの欠陥分類を搭載しており、手動検査を効果的に置き換え、完全なトレーサビリティを持つ生産管理を保証します。

ダイオード本体の寸法、表面品質、めっきの一貫性、ピンの品質、混合材料の検出など、検査要件に応じてカスタマイズ可能な4面、6面、または8面の高速検査をサポートします。

仕様

• 検査対象: SMAダイオード
• 最大速度: 1,400個/分（最大10,000個/分までカスタマイズ可能）
• 検査視野: 4 / 6 / 8面 カスタマイズ可能
• 検査項目:
  • 寸法: 本体長さ/幅, ピン長さ/幅
  • 欠陥: めっき、銅露出、傷、汚れ、ピンホール、ピンの損傷、曲がり、錫スラグなど
• 供給システム: 精密アルミニウム合金振動ボウル、低騒音、詰まりなし
• 精度: ミクロンレベルの寸法および欠陥検出

高度な装置の特徴

当社のシステムは、最高の速度、安定性、およびインテリジェンスを実現するように設計されています。

1. 驚異的な検査速度
当社のシステムの最適化されたハードウェアとソフトウェアは、最大毎分1,400個を検査でき、スループットを犠牲にすることなく完全な品質管理を保証します。

2. 安定した、詰まりのない供給
精密機械加工されたアルミニウム合金製振動ボウルを特徴としています。このカスタムフィーダーは、安定した、低騒音で一貫した部品供給を提供し、詰まり、滞留、または部品の向きの間違いを完全に排除します。

3. ユーザーフレンドリー＆MES対応
システムは直感的で使いやすいUIを介して制御されます。また、完全にMES対応であり、工場管理システムにシームレスに接続して、リアルタイムのデータ追跡とトレーサビリティを実現します。

4. インテリジェントな欠陥分類
これは単なるリジェクターではありません。当社のシステムは欠陥品を欠陥カテゴリ別に自動的に分類します。これにより、故障分析に非常に価値のある、実用的なデータが提供され、エンジニアリングチームが上流のプロセス問題を特定・修正し、全体的な歩留まりを向上させるのに役立ちます。

5. 高度に柔軟でスケーラブルなアーキテクチャ
お客様の検査ニーズはユニークです。当社のプラットフォームはカスタマイズのために構築されています。

• 多面検査: 100%のカバレッジを実現するために、4面、6面、さらには8面検査に構成できます。
• 超高速: 当社独自の自社開発システムは、毎分最大10,000個の速度に精密にカスタマイズできます。